尊敬的客户，您好！

您有产品要高低温老化测试、温湿度循环老化测试、温度冲击老化测试、振动、机械冲击、跌落、防尘防水、高压清洗、按键疲劳和寿命测试，插拔疲劳和寿命等测试； 

请提供

样品量：4套

周期：试验循环周期 结束后1天

 随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生一些潜伏缺陷。电子产品在生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题概括有两类：

    类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；

    第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。

    一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被(暴露)。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。

     通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，老化后再进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之用，从面保证出厂的产品能经得起时间的考验。

检验方法

电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法     IEC 60068-2-78：2012

电连接器和插座的湿度测试程序  EIA-364-31D-2014

色漆和清漆 耐湿性的测定连续冷凝法GB/T13893-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环）GB/T 2423.4-2008

电工电子产品基本环境试验规程 试验Db:交变湿热（12h+12h循环） IEC 60068-2-30：2005

漆膜耐湿热测定法GB/T1740-2007

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验ZAD：温度湿度组合循环试验GB/T 2423.34-2012

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验  IEC 60068-2-38：2009

色漆和清漆 耐热性的测定GB/T 1735-2009

电连接器和插座的温度寿命测试（带载或不带载）程序      EIA-364-17C-2011电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温GB/T 2423.1-2008

电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法   IEC 60068-2-1：2007

华瑞测试验室配备了高低温试验箱、冷热冲击试验箱、电子万能试验、电感耦合分析设备碳硫分析仪和经验丰富的分析技术人员、并完善成分分析数据库，可对原材料、整机进行面成分、可靠性、高温、低温、冲击、抗拉、硬度、表面氧化膜厚、形貌、异物来源进行验证、性能老化试验。