日本ygkcop晶圆表面扫描仪
日本ygkcop晶圆表面扫描仪
产品价格:¥1.00(人民币)
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    商品详情

      日本ygkcop晶圆表面扫描仪

      YPI-MX-ΘDC

      YPI-MN

      晶圆表面扫描仪最小半英寸晶圆表面颗粒检查设备

      半英寸晶圆表面颗粒检查设备。
      标准半英寸晶片表面上的异物(颗粒)的高速扫描实时显示在触摸屏显示器上。
      根据规格检查显示/运输操作。
      可以通过简单的操作快速掌握晶片的颗粒状态。

      检测粒径为0.1μm。
      测量结果示例

         

      设备规格

      扫描方式螺旋扫描
      工作安装标准的自动运输
      能量消耗AC100V 10A
      最小检测粒径0.1微米
      重现性σ/ X≦10%
      测量时间1分钟以内,包括运输(测量重复性90%或更高)
      待检查的基材硅片等
    在线询盘/留言
  • 0571-87774297